仅限 Zetasizer Ultra 红标版本 (Red Label)
特点和优点
纳米粒度电位仪Zetasizer Ultra 融合了功能强大的 DLS 与 ELS 系统，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和独特的多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子大小。 NIBS 的多用性和灵敏度可适用广泛的浓度范围，而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。
Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 扩展功能可直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量适合于广泛的材料，无需或只需很少稀释，并且使用快捷，这一切使其成为一种理想的筛选技术。 这是 Zetasizer Ultra 的一项独特功能，甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和类病毒颗粒 (VLP) 等样品。
Zetasizer Ultra 的关键特性和优点包括：
用于高分辨率粒度测量且与角度无关的多角动态光散射法 (MADLS) 可以更深入地展现您的样品粒度分布
动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 15 ?m 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 （使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 ?m ；取决于样品和样品制备）
电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性
非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围，即使是处理非常浓缩的样品，也能实现高灵敏度
简单的每峰值浓度/滴度测量（仅限红标Red Label版本）
可抛弃型毛细管粒度测量样品池提供了无损、低容量（* 3 ?L）分析，并且粒度上限范围可达到 15 μm
具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率
以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型
“自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图
通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议
纳米粒度仪
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